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日本九州工业大学温晓青教授来重点实验室做技术交流

时间:2012-04-01  来源:  作者:

2012年3月29日下午2点计算所748会议室,日本九州工业大学的温晓青教授为计算所师生做了题为“低功耗超大规模集成电路的低功耗测试”(Power-Aware Testing for Low-Power VLSI Circuits)的学术报告。李华伟研究员主持了此次会议。

温晓青教授首先介绍了日本九州的自然地理和经济工业情况,还介绍了九州工业大学和他所在研究组的情况。接着温教授结合自己与工业界合作的经验向我们系统而又全面地介绍了低功耗测试提出的背景和面临的主要问题,降低移位功耗(Shift Power)和捕获功耗(Capture Power)的方法以及基于抢救(Rescue)和屏蔽(Mask)保证捕获功耗安全的研究成果。最后介绍了从低功耗测试到安全功耗(Power-Safe)测试、移位功耗引起的时钟偏移(clock skew)缓解、捕获功耗优化等研究动向。报告后,在场师生就低功耗测试方面的问题与温教授进行了热烈的讨论。

通过此次报告会,参会的二十多名师生深入了解了低功耗测试领域的前沿知识和最新动态,受益良多。